BS IEC 60748-4-3-2007 半导体器件.集成电路.接口集成电路.模拟数字转换器(ADC)的动态标准
作者:标准资料网 时间:2024-05-12 09:26:07 浏览:8367
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Integratedcircuits-Interfaceintegratedcircuits-Dynamiccriteriaforanalogue-digitalconverters(ADC)
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.接口集成电路.模拟数字转换器(ADC)的动态标准
【标准号】:BSIEC60748-4-3-2007
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2007-02-28
【实施或试行日期】:2007-02-28
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:模拟;模拟集成电路;模拟数字转换器;定义;数字集成电路;电气工程;电气测量;电气试验;电子工程;电子设备和元件;集成电路技术;集成电路;接口电路;寿命;极限(数学);测量技术;微处理器;使用条件;额定值;只读存储器;可靠度;半导体器件;半导体;规范(验收);存储电路;符号;技术数据单;测试
【英文主题词】:Analogue;Analogueintegratedcircuits;Analogue-digitalconvertors;Definitions;Digitalintegratedcircuits;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electricaltesting;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuittechnology;Integratedcircuits;Interfacecircuits;Life(durability);Limits(mathematics);Measuringtechniques;Microprocessors;Operatingconditions;Ratings;Read-onlystorage;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Storagecircuits;Symbols;Technicaldatasheets;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60748specifiesasetofmeasuringmethodsandrequirementsfortestingADCsunderdynamicconditions,togetherwithassociatedterminologyandcharacteristics.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:38P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.集成电路.接口集成电路.模拟数字转换器(ADC)的动态标准
【标准号】:BSIEC60748-4-3-2007
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2007-02-28
【实施或试行日期】:2007-02-28
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:模拟;模拟集成电路;模拟数字转换器;定义;数字集成电路;电气工程;电气测量;电气试验;电子工程;电子设备和元件;集成电路技术;集成电路;接口电路;寿命;极限(数学);测量技术;微处理器;使用条件;额定值;只读存储器;可靠度;半导体器件;半导体;规范(验收);存储电路;符号;技术数据单;测试
【英文主题词】:Analogue;Analogueintegratedcircuits;Analogue-digitalconvertors;Definitions;Digitalintegratedcircuits;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electricaltesting;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuittechnology;Integratedcircuits;Interfacecircuits;Life(durability);Limits(mathematics);Measuringtechniques;Microprocessors;Operatingconditions;Ratings;Read-onlystorage;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Storagecircuits;Symbols;Technicaldatasheets;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60748specifiesasetofmeasuringmethodsandrequirementsfortestingADCsunderdynamicconditions,togetherwithassociatedterminologyandcharacteristics.
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:38P.;A4
【正文语种】:英语
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