IEC 60269-4 AMD 1-2012 低压熔断器.第4部分:保护半导体器件用熔断体的补充要求

作者:标准资料网 时间:2024-05-14 22:16:58  浏览:8353   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Low-voltagefuses-Part4:Supplementaryrequirementsforfuse-linksfortheprotectionofsemiconductordevices
【原文标准名称】:低压熔断器.第4部分:保护半导体器件用熔断体的补充要求
【标准号】:IEC60269-4AMD1-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC32B
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:断路容量;设计;拆分范围;电气工程;电气设备;熔断体;熔断器;冲击设备;指示设备;低电压;低压熔断器;使用条件;性能;保护(装置);保护设备;额定电压;半导体器件;半导体工程;半导体保险丝;规范(验收);试验;类型;电压源
【英文主题词】:Breakingcapacity;Design;Disconnectingrange;Electricalengineering;Electricalequipment;Fuse-links;Fuses;Impactappliances;Indicationdevice;Lowvoltage;Low-voltagefuses;Operatingconditions;Properties;Protection;Protectiondevices;Ratedvoltage;Semiconductordevices;Semiconductorengineering;Semiconductorsafetyfuse;Specification(approval);Testing;Types;Voltagesource
【摘要】:
【中国标准分类号】:K31
【国际标准分类号】:29_120_50
【页数】:13P;A4
【正文语种】:英语